中国科学院软件研究所机构知识库
Advanced  
ISCAS OpenIR  > 互联网软件技术实验室  > 期刊论文
题名:
一种考虑缺陷关联的软件可靠性增长模型
其他题名: software reliability growth model considering defect correlation
作者: 张荣辉 ; 姜楠 ; 勾朗 ; 车美儒 ; 舒风笛
关键词: 软件可靠性增长模型 ; 非齐次泊松过程 ; 软件缺陷关联 ; 软件缺陷 ; 关联关系 ; 齐次泊松过程 ; 可靠性指标 ; 改进的模型 ; 预测能力 ; 失效数据 ; 软件产品 ; 拟合效果 ; 测试过程 ; 分析表 ; 实验 ; 评价 ; 基础 ; 工具 ; 分类
刊名: 计算机工程
发表日期: 2008
卷: 34, 期:8, 页:44-46
部门归属: 中国科学院软件研究所互联网软件技术实验室,北京,100080;中国科学院研究生院,北京,100080;中国科学院软件研究所互联网软件技术实验室,北京,100080;中国科学院研究生院,北京,100080;中国科学院软件研究所互联网软件技术实验室,北京,100080;中国科学院研究生院,北京,100080;中国科学院软件研究所互联网软件技术实验室,北京,100080;中国科学院研究生院,北京,100080;中国科学院软件研究所互联网软件技术实验室,北京,100080
摘要: 非齐次泊松过程类软件可靠性增长模型(NHPP-SRGMs)是评价软件产品可靠性指标的有效工具,但大多数该类模型都未考虑软件缺陷关联这一测试过程中普遍存在的现象.该文在考虑软件缺陷关联关系的基础上对缺陷进行分类,提出一个改进的NHPP类软件可靠性增长模型.在一组失效数据上的实验分析表明,改进的模型具有较好的拟合效果和预测能力.
语种: 中文
内容类型: 期刊论文
URI标识: http://ir.iscas.ac.cn/handle/311060/10331
Appears in Collections:互联网软件技术实验室 _期刊论文

Files in This Item:
File Name/ File Size Content Type Version Access License
一种考虑缺陷关联的软件可靠性增长模型.pdf(285KB)----限制开放-- 联系获取全文

Recommended Citation:
张荣辉,姜楠,勾朗,等. 一种考虑缺陷关联的软件可靠性增长模型[J]. 计算机工程,2008-01-01,34(8):44-46.
Service
Recommend this item
Sava as my favorate item
Show this item's statistics
Export Endnote File
Google Scholar
Similar articles in Google Scholar
[张荣辉]'s Articles
[姜楠]'s Articles
[勾朗]'s Articles
CSDL cross search
Similar articles in CSDL Cross Search
[张荣辉]‘s Articles
[姜楠]‘s Articles
[勾朗]‘s Articles
Related Copyright Policies
Null
Social Bookmarking
Add to CiteULike Add to Connotea Add to Del.icio.us Add to Digg Add to Reddit
所有评论 (0)
暂无评论
 
评注功能仅针对注册用户开放,请您登录
您对该条目有什么异议,请填写以下表单,管理员会尽快联系您。
内 容:
Email:  *
单位:
验证码:   刷新
您在IR的使用过程中有什么好的想法或者建议可以反馈给我们。
标 题:
 *
内 容:
Email:  *
验证码:   刷新

Items in IR are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.

 

 

Valid XHTML 1.0!
Copyright © 2007-2017  中国科学院软件研究所 - Feedback
Powered by CSpace