| Title: | 一种考虑缺陷关联的软件可靠性增长模型 |
| Alternative Title: | software reliability growth model considering defect correlation
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| Author: | 张荣辉
; 姜楠
; 勾朗
; 车美儒
; 舒风笛
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| Keyword: | 软件可靠性增长模型
; 非齐次泊松过程
; 软件缺陷关联
; 软件缺陷
; 关联关系
; 齐次泊松过程
; 可靠性指标
; 改进的模型
; 预测能力
; 失效数据
; 软件产品
; 拟合效果
; 测试过程
; 分析表
; 实验
; 评价
; 基础
; 工具
; 分类
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| Source: | 计算机工程
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| Issued Date: | 2008
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| Volume: | 34, Issue:8, Pages:44-46 | | Department: | 中国科学院软件研究所互联网软件技术实验室,北京,100080;中国科学院研究生院,北京,100080;中国科学院软件研究所互联网软件技术实验室,北京,100080;中国科学院研究生院,北京,100080;中国科学院软件研究所互联网软件技术实验室,北京,100080;中国科学院研究生院,北京,100080;中国科学院软件研究所互联网软件技术实验室,北京,100080;中国科学院研究生院,北京,100080;中国科学院软件研究所互联网软件技术实验室,北京,100080
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| Abstract: | 非齐次泊松过程类软件可靠性增长模型(NHPP-SRGMs)是评价软件产品可靠性指标的有效工具,但大多数该类模型都未考虑软件缺陷关联这一测试过程中普遍存在的现象.该文在考虑软件缺陷关联关系的基础上对缺陷进行分类,提出一个改进的NHPP类软件可靠性增长模型.在一组失效数据上的实验分析表明,改进的模型具有较好的拟合效果和预测能力. |
| Language: | 中文
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| Content Type: | 期刊论文
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| URI: | http://ir.iscas.ac.cn/handle/311060/10331
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| Appears in Collections: | 互联网软件技术实验室 _期刊论文
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| Recommended Citation: | |
张荣辉,姜楠,勾朗,等. 一种考虑缺陷关联的软件可靠性增长模型[J]. 计算机工程,2008-01-01,34(8):44-46.
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