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题名:
二元推导与自相关随机性检测算法的相关性分析
其他题名: on the relativity of binary derivation and autocorrelation randomness test
作者: 范丽敏 ; 冯登国 ; 陈华
关键词: 随机性检测 ; 二元推导检测 ; 自相关检测 ; 参数选择 ; 杨辉三角
刊名: 计算机研究与发展
发表日期: 2009
卷: 46, 期:6, 页:956-961
收录类别: EI ; CSCD
部门归属: 信息安全国家重点实验室
摘要: 随机性检测在密码学中发挥着重要的作用,目前,已有多种不同的随机性检测算法.但是,实际应用中选择所有的检测算法进行检测不现实,选择哪些算法能够使检测充分且无冗余,这需要研究检测算法之间可能存在的关系.对两种重要的随机性检测算法二元推导和自相关进行了研究.从二者的基本原理出发,对其检测的推导过程进行了分析,结合杨辉三角的性质证明了在参数k选择为2t时,二元推导与自相关是等价的.若同时进行参数为2t的二元推导检测和自相关检测则存在冗余.同时对这个结论进行了实验验证.另外,研究还发现,在参数k选择为2t-1时,二元推导检测中推导序列的每一个比特包含初始序列的所有相关比特信息.所研究工作为实际应用中随机性检测项目和检测参数的选择提供了理论的指导.
语种: 中文
Citation statistics:
内容类型: 期刊论文
URI标识: http://ir.iscas.ac.cn/handle/311060/1870
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范丽敏,冯登国,陈华. 二元推导与自相关随机性检测算法的相关性分析[J]. 计算机研究与发展,2009-01-01,46(6):956-961.
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