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题名:
二元推导随机性检测的优化实现
其他题名: optimization implementation of binary derivation randomness test
作者: 范丽敏 ; 冯登国 ; 许囡囡
关键词: 随机性检测 ; 二元推导 ; 优化实现
刊名: 计算机工程
发表日期: 2008
卷: 34, 期:19, 页:20-22
收录类别: CSCD
部门归属: 信息安全国家重点实验室
摘要: 随机性检测在密码学中发挥着关键的作用。二元推导是一种重要的随机性检测算法。根据二元推导原始定义实现的算法所耗时间随参数的增大线性增长。当参数逐渐增大时,算法的实用性降低。该文从二元推导的原理出发,分析二元推导的检测过程,得出由参数确定的推导流比特与原始流相关比特的关系。利用这种关系优化了算法的实现,改进后的算法所耗时间与具体的参数有关,速度上有很大的提高。
语种: 中文
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内容类型: 期刊论文
URI标识: http://ir.iscas.ac.cn/handle/311060/2036
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optimization-binary-derivation-randomness.pdf(312KB)----限制开放-- 联系获取全文

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范丽敏,冯登国,许囡囡. 二元推导随机性检测的优化实现[J]. 计算机工程,2008-01-01,34(19):20-22.
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