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ISCAS OpenIR  > 综合信息系统技术国家级重点实验室  > 期刊论文
学科主题: Computer Science
题名:
VarBIFT:指令级的变量冗余容错检测技术
其他题名: varbift: variable backup at instruction-level for fault tolerance
作者: 张显明 ; 张锐 ; 彭启民 ; 赵军锁
关键词: 软件容错 ; 编译 ; 可靠性 ; 瞬时错误 ; 嵌入式系统software fault tolerance ; compilation ; reliability ; transient fault ; embedded system
刊名: 计算机工程与设计
发表日期: 2010
卷: 31, 期:10, 页:2163-2165,2183
部门归属: 中国科学院软件研究所综合信息技术国家级重点实验室;中国科学院研究生院;
摘要: 为了解决空间辐射对嵌入式计算机系统正确性的影响越来越明显的问题,基于典型的编译级容错技术,在编译器LCC上实现了基于有向无环图的编译级容错检测方法VarBIFT。该方法可以有效的保护由于粒子效应所引起的瞬时硬件故障,并可针对不同的目标机自动生成容错代码。实验结果表明,VarBIFT使源程序的平均段错误率从32.3%降到了13.9%,平均错误输出率从28.6%降到了9.2%;而其时间开销和空间开销仅为0.7%和36%。
语种: 中文
内容类型: 期刊论文
URI标识: http://ir.iscas.ac.cn/handle/311060/9802
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VarBIFT指令级的变量冗余容错检测技术.pdf(432KB)----限制开放-- 联系获取全文

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张显明,张锐,彭启民,等. VarBIFT:指令级的变量冗余容错检测技术[J]. 计算机工程与设计,2010-01-01,31(10):2163-2165,2183.
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