ISCAS OpenIR  > 天基综合信息系统全国重点实验室
VarBIFT:指令级的变量冗余容错检测技术
Alternative Titlevarbift: variable backup at instruction-level for fault tolerance
张显明; 张锐; 彭启民; 赵军锁
2010
Source计算机工程与设计
ISSN1000-7024
Volume31Issue:10Pages:2163-2165,2183
English Abstract为了解决空间辐射对嵌入式计算机系统正确性的影响越来越明显的问题,基于典型的编译级容错技术,在编译器LCC上实现了基于有向无环图的编译级容错检测方法VarBIFT。该方法可以有效的保护由于粒子效应所引起的瞬时硬件故障,并可针对不同的目标机自动生成容错代码。实验结果表明,VarBIFT使源程序的平均段错误率从32.3%降到了13.9%,平均错误输出率从28.6%降到了9.2%;而其时间开销和空间开销仅为0.7%和36%。
Keyword软件容错 编译 可靠性 瞬时错误 嵌入式系统software Fault Tolerance Compilation Reliability Transient Fault Embedded System
Department中国科学院软件研究所综合信息技术国家级重点实验室;中国科学院研究生院;
SubjectComputer Science
Language中文
Content Type期刊论文
URIhttp://ir.iscas.ac.cn/handle/311060/9802
Collection天基综合信息系统全国重点实验室
Recommended Citation
GB/T 7714
张显明,张锐,彭启民,等. VarBIFT:指令级的变量冗余容错检测技术[J]. 计算机工程与设计,2010,31(10):2163-2165,2183.
APA 张显明,张锐,彭启民,&赵军锁.(2010).VarBIFT:指令级的变量冗余容错检测技术.计算机工程与设计,31(10),2163-2165,2183.
MLA 张显明,et al."VarBIFT:指令级的变量冗余容错检测技术".计算机工程与设计 31.10(2010):2163-2165,2183.
Files in This Item:
File Name/Size DocType Version Access License
VarBIFT指令级的变量冗余容错检测技(432KB) 开放获取--Application Full Text
Related Services
Recommend this item
Bookmark
Usage statistics
Export to Endnote
Google Scholar
Similar articles in Google Scholar
[张显明]'s Articles
[张锐]'s Articles
[彭启民]'s Articles
Baidu academic
Similar articles in Baidu academic
[张显明]'s Articles
[张锐]'s Articles
[彭启民]'s Articles
Bing Scholar
Similar articles in Bing Scholar
[张显明]'s Articles
[张锐]'s Articles
[彭启民]'s Articles
Terms of Use
No data!
Social Bookmark/Share
All comments (0)
No comment.
 

Items in the repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.