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基于pCTL的循环优化测试用例自动生成方法
其他题名automatic generation of test cases for loop optimizations based on pctl
余侠; 薛云志; 陶秋铭
2010
发表期刊小型微型计算机系统
ISSN1000-1220
卷号31期号:3页码:436-440
摘要循环优化测试对保证现代编译器质量有着重要作用.传统手工构造测试用例方法面临着效率低的问题,而目前的自动构造方法对循环优化的针对性不足.提出并实现了一种基于参数化分支时序逻辑(pCTL)的循环优化测试用例自动生成方法.并用生成的测试用例对GCC-4.1.1进行覆盖率测试,结果表明该方法可以生成具有很高针对性的循环优化测试用例,并且很少的测试用例即可达到较高的覆盖程度.
关键词Pctl 循环优化 测试用例生成 覆盖率pctl Loop Optimization Test Case Generation Coverage Test
部门归属中国科学院软件研究所基础软件国家工程研究中心;中国科学院研究生院;中国科学院软件研究所互联网软件技术实验室;
学科领域Computer Science
语种中文
内容类型期刊论文
URI标识http://ir.iscas.ac.cn/handle/311060/9868
专题基础软件国家工程研究中心
推荐引用方式
GB/T 7714
余侠,薛云志,陶秋铭. 基于pCTL的循环优化测试用例自动生成方法[J]. 小型微型计算机系统,2010,31(3):436-440.
APA 余侠,薛云志,&陶秋铭.(2010).基于pCTL的循环优化测试用例自动生成方法.小型微型计算机系统,31(3),436-440.
MLA 余侠,et al."基于pCTL的循环优化测试用例自动生成方法".小型微型计算机系统 31.3(2010):436-440.
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